HAST（非饱和）高加速老化试验箱更常用，这主要源于其测试效率、应用范围、设备灵活性及行业趋势的共同推动。以下是对两者的具体分析：

1. 测试效率：HAST显著缩短研发周期

PCT：测试时间通常为24~96小时，通过饱和蒸汽环境（100% RH）模拟恶劣湿热条件，但加速因子较低，需更长时间暴露缺陷。

HAST：测试时间缩短至6~96小时，通过非饱和湿度（85%~100% RH）和更高温度（105°C~150°C）实现更严苛的加速条件，加速因子更高。例如，HAST可在48小时内模拟电子产品在热带气候下10年的使用情况，而PCT可能需要96小时以上。

优势：HAST的快速测试能力使其成为研发阶段，尤其适用于需要快速迭代的产品（如消费电子、汽车电子）。

2. 应用范围：HAST覆盖更广的行业需求

PCT：主要用于评估密封性、吸湿失效和材料稳定性，常见于半导体封装（JESD22-A102标准）、PCB（IPC-TM-650标准）等对湿气敏感的场景。

HAST：除密封性测试外，还能模拟电迁移、腐蚀、绝缘劣化等复杂失效模式，覆盖电子元器件、汽车零部件、航空航天设备、医疗器械等多领域。例如：

电子行业：测试手机、电脑等产品的耐候性；

汽车行业：评估车灯、传感器在高温高湿下的可靠性；

航空航天：验证飞行器电子设备在恶劣环境下的稳定性；

新能源领域：测试太阳能板、风力发电机的长期稳定性。

优势：HAST的多样性和可调性（湿度、温度、压力范围更广）使其能满足更多行业的实际需求。

3. 设备灵活性：HAST支持更复杂的测试场景

PCT：结构简单，仅需维持饱和蒸汽环境，控制参数较少（温度+压力），但功能单一。

HAST：设备复杂度高，需精确控制非饱和湿度，可能配备湿度传感器、干空气注入系统、电偏压功能（如THB试验），支持更灵活的测试模式。例如：

模拟非饱和高温高湿环境，更接近实际使用条件（如热带气候）；

结合电偏压测试，评估电化学失效（如金属化腐蚀、导电阳极丝CAF）。

优势：HAST的灵活性使其能应对更复杂的测试需求，成为全能型老化测试设备。

4. 行业趋势：HAST逐渐成为主流选择

标准支持：HAST已被纳入JESD22-A110（半导体）、IEC 60068-2-66等国际标准，成为某些行业的标准测试方法（如PCB、半导体、太阳能板）。

成本效益：尽管HAST设备初期投资和维护成本较高，但其缩短的测试周期和综合成本效益（如减少研发时间、提前发现缺陷）使其更具长期优势。

市场需求：随着电子产品向高密度、小型化发展，对可靠性的要求提高，HAST能更高效地暴露潜在问题，满足市场对高质量产品的需求。